数字系统测试与可测试设计

作者：（美）阿布拉莫韦奇 等著，李华伟 等译
出版：机械工业出版社 2006.8
页数：449
定价：56.00 元
ISBN-10：7111192370
ISBN-13：9787111192374 去豆瓣看看