国外大学优秀教材·材料科学与工程系列：透射电子显微学（4卷本）（影印版）

　　Ⅰ Basics
　　1 The Transmission Electron Microscope
　　2 Scattering and Diffraction
　　3 Elastic Scattering
　　4 Inelastic Scattering and Beam Damage
　　5 Electron Sources
　　6 Lenses,Apertures,and Resolution
　　7 How to“See”Electrons
　　8 Pumps and Holders
　　9 The Instrument
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　　本书是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷：基本概念，衍射理论，成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念，包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论，因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构，这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。
　　本书作为教材很有创新性，而且把这一通用的材料表征技术的实际应用进行了必要的介绍和论述，是短时间内掌握电子显微镜的最佳学习途径，无论是电子显微镜初学者还是高级研…
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　　Ⅰ Basics
　　1 The Transmission Electron Microscope
　　2 Scattering and Diffraction
　　3 Elastic Scattering
　　4 Inelastic Scattering and Beam Damage
　　5 Electron Sources
　　6 Lenses,Apertures,and Resolution
　　7 How to“See”Electrons
　　8 Pumps and Holders
　　9 The Instrument
　　10 Specimen Preparation
　　Ⅱ Diffraction
　　11 Diffraction Patterns
　　12 Thinking in Reciprocal Space
　　13 Diffracted Beams
　　14 Bloch Waves
　　15 Dispersion Surfaces
　　16 Diffraction from Crystals
　　17 Diffraction from Small Volumes
　　18 Indexing Diffraction Patterns
　　19 Kikuchi Diffraction
　　20 Obtaining CBED Patterns
　　21 Using Convergent-Beam Techniques
　　Ⅲ Imaging
　　22 Imaging in the TEM
　　23 Thickness and Bending Effects
　　24 Planar Defects
　　25 Strain Fields
　　26 Weak-Beam Dark-Field Microscopy
　　27 Phase-Contrast Images
　　28 High-Resolution TEM
　　29 Image Simulation
　　30 Quantifying and Processing HRTEM Images
　　31 Other Imaging Techniques
　　Ⅳ Spectrometry
　　32 X-ray Spectrometry
　　33 The XEDS-TEM Iterface
　　34 Qualitative X-ray Analysis
　　35 Qualitative X-ray Microanalysis
　　36 Spatial Resolution and Minimum Detectability
　　37 Electron Energy-Loss Spectrometers
　　38 The Energy-Loss Spectrum
　　39 Microanalysis with lonization-Loss Electrons
　　40 Everything Else in the Spectrum
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　　本书是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷：基本概念，衍射理论，成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念，包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论，因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构，这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。
　　本书作为教材很有创新性，而且把这一通用的材料表征技术的实际应用进行了必要的介绍和论述，是短时间内掌握电子显微镜的最佳学习途径，无论是电子显微镜初学者还是高级研究人员都将开卷有益。它也是亚马逊网上书店最畅销的教材之一。
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